CMOS集成电路-A/D数字输入低电平电压测试

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1 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.4.1.2 传输时间tPHL

2 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.4.1.2 传输时间tPLH

3 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.4.3 保持时间th

4 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.1 动态条件下的总电源电流ICC

5 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.3.4.3 建立时间tsu

6 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2 输入低电平电压VIL

7 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2.2 输入低电平电流IIL

8 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2.6 输入箝位电压VIK

9 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2.5 输入阈值电压VIT+

10 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2.5 输入阈值电压VIT-

11 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 IV.2 输入高电平电压VIH