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微电子器件-X射线检查测试-百检网

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1 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 2009.1,2014 外部目检、内部目检和结构检查


2 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 2071 外部目检、内部目检和结构检查


3 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 扫频振动


4 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 模拟寿命


5 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 温度循环


6 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 盐雾(盐汽)


7 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 稳定性烘焙


8 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 稳态寿命


9 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 老炼


10 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 耐湿试验


11 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 间歇寿命


12 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 随机振动


13 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法1001 低气压


14 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法1010.1 温度循环


15 《微电子器件试验方法和程序》 GJB548B-2005 方法1008.1 稳定性烘焙



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