集成电路测试报告办理 集成电路测试项目及标准

检测对象：集成电路测试

检测周期：通常需3-7个工作日，可加急（特殊样品除外）。百检第三方检测机构能为企业、单位、公司、个体商户或是高校科研提供集成电路测试服务。

集成电路测试项目：

封装测试，高低温测试，可靠性测试，弯扭测试，低功耗测试，盐雾测试，晶圆测试，固晶推力测试，接口插拔力测试，引脚测试，泄漏电流测试，气密性测试，绝缘强度测试，电磁兼容测试，集成电路测试等。(具体检测项目与工程师对接后确认)

检测报告：CMA/CNAS/CAL资质报告，支持扫码查询真伪。

百检第三方检测机构可提供集成电路测试报告办理服务，根据集成电路测试报告用途，百检工程师会制定方案，包括集成电路测试项目、标准。

集成电路测试标准：

GB/T 2900.66-2004电工术语 半导体器件和集成电路

GB/T 3430-1989半导体集成电路型号命名方法

GB/T 3431.2-1986半导体集成电路文字符号 引出端功能符号

GB/T 3436-1996半导体集成电路运算放大器系列和品种

GB/T 4023-2015半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管

GB/T 4376-1994半导体集成电路 电压调整器系列和品种

GB/T 4377-2018半导体集成电路 电压调整器测试方法

GB/T 4587-1994半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

GB/T 6798-1996半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理

GB/T 9178-1988集成电路术语

GB/T 12842-1991膜集成电路和混合膜集成电路术语

GB/T 14028-2018半导体集成电路 模拟开关测试方法

GB/T 14029-1992半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理

GB/T 14030-1992半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

GB/T 14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

GB/T 14113-1993半导体集成电路封装术语

GB/T 14619-2013厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14620-2013薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

GB/T 14862-1993半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法

GB/T 15136-1994半导体集成电路石英钟表电路测试方法的基本原理

GB/T 15651.2-2003半导体分立器件和集成电路 第5-2部分：光电子器件 基本额定值和特性

(实际检测方案所用标准需与工程师对接后确认)

集成电路测试报告办理流程：

1、致电百检客服，与客服沟通检测产品、需求等基本信息。

2、百检客服记录需求后，为客户分配工程师对接详细介绍后报价。

3、确认方案及报价后，签订合同，安排寄样检测。

4、实验室收到样品后，根据方案开始检测。

5、完成检测后，出具检测报告，如需纸质版则安排快递。

如果有加急需求，请提前告知工程师或客服。